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飞秒激光剥蚀进样系统

飞秒激光剥蚀进样系统
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产品型号:
J200 LA
产品报价:
产品特点:
美国ASI J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统与等离子体质谱连用,组成LA-ICP-MS系统,对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。
  J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统的详细资料:

一、简介

美国ASI J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统与等离子体质谱连用,组成LA-ICP-MS系统,对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。

 

二、J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统技术优势

  • Q开关,短脉冲Nd:YAG激光器,拥有各种不同波长、不同能量的飞秒或纳秒激光器,可根据您的实际应用需求进行选购
  • 创新的模块化系统为独立的LA,LIBS,或LA–LIBS复合系统的配置设计
  • 系统传感器,确保激光剥蚀一致性
    • 高度自动调整技术
    • 激光能量稳定快门
  • 双摄像机,一个专用于高倍成像,另一个用于样品表面的广角观察
  • 应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块,以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能
  • 紧凑型微集气管设计,以消除脱气和记忆效应
  • 双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门
  • 系统软件
    • 硬件部件的全面控制与测量自动化
    • 多功能取样方法:全分析、微区&夹杂物分析,深度分析和元素成像
    • 用于LA-ICP-MS和LIBS分析的强大数据分析模块
  • 维护成本低
  • 升级为LA-LIBS复合系统简单
    • 用于判别和分类分析的LIBS化学计量软件
    • 满足不同分析要求的三种LIBS检测器选项,LIBS可配置双检测器
  • 可升级为飞秒激光剥蚀

 

三、硬件特点

针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统

主体包括激光源、激光束传输光学器件、样品室、气体流量控制系统。

 

自动调整样品高度,保证激光剥蚀的一致性

考虑到样品表面的形态变化,采用自动调高传感器。可保持精确的激光聚焦,在所有采样点上提供相同的激光能量,并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。

 

具有可互换镶嵌模块的Flex样品室,以优化气流和微粒冲洗性能

根据测量目的(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等),有必要对样品室的各个性能指标进行优化,指标包括:冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。Flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品,使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节气流条件(层流和紊流)和微粒冲洗时间。此外,Flex样品室的设计是为等离子体光提供一个好的视角,从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的LIBS检测。

 

创新集气管设计

采用先进的集气管设计,最大限度地减少了脱气,防止了任何烧蚀颗粒的堆积,并消除记忆效应。容易组装,便于定期清洁输气管道。

 

高精度气体流量控制系统

气体控制系统使用两个高精度、数字化质量流量控制器(MFC)和电子控制阀,用于氩气、氦气及补充气体的输送,并精确控制气流,防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。

气体流量控制系统

 

通过双摄像头和先进照明实现样品可视化

拥有先进照明系统和高倍光学变焦(高达60X)功能,清晰呈现样品的表面细节。配备双高分辨率CMOS成像摄像机,提供广角视野和高倍成像,以精确地研究精细区域(见下图)。广角视野视图可以保存,并用于定位不同的样品位置,使用高倍镜研究样品。

 

具有三种独立的照明模式,提高图像质量和对比度:扩散式LED光源,透射光和同轴反射光,光的强度和颜色可控。

清晰、高倍放大的样品表面图像

同轴光线不同颜色和强度下的样本图像对比

 

三种LIBS检测器可选,扩展了仪器功能

三种不同LIBS检测器可选:(1)带有ICCD摄像机的扫描Czerny Turner光谱仪;(2) 配备ICCD摄像机的中阶梯光栅光谱仪;(3)同步六通道CCD光谱仪。做为独立的LIBS仪器系统,可同时配备任意两种检测器。双检测器开辟了新的LIBS检测功能。

 

产品相关关键字: 美国ASI J200 LA 飞秒激光剥蚀进样系统
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