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    J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统

    更新时间：2024-10-24

    型号：J200 LA

    浏览量：7522

    美国ASI J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统与等离子体质谱连用，组成LA-ICP-MS系统，对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。
    了解详情
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